国家标准计划《集成电路CMOS图像传感器测试方法》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 。

本项目的目的是建立一套针对各类CMOS图像传感器的性能参数测试方法和测试系统构建标准。

规定并阐述各参数的物理意义，形成各参数标准测试方法，并匹配测试方法构建参数测试平台，最终可为相关CMOS图像传感器研制及应用单位提供规范统一的参数测试标准。

本标准形成后，可同时适用于CMOS图像传感器生产商和应用商，为CMOS图像传感器乃至数码相机性能评价提供统一的测试标准，为机器视觉、航空/航天遥感、医疗器械、民用摄影等众多领域提供测试依据。 主要技术内容包括测试参数提取及规范阐述其物理意义；覆盖各类型CMOS图像传感器，针对各参数建立标准的测试方法，并提供详细的测试流程；提供供参考的测试系统硬件构建方案，指导厂商完成测试系统构建，并应用标准测试方法完成相关参数的测试。 标准编写过程中，须开展的工作包括：详细调研CMOS图像传感器生产商和应用商，提炼出能够全面覆盖CMOS图像传感器各项性能的待测参数，并规范阐述其物理意义；在前期技术积累基础上，规范参数测试方法，构建和改进测试平台，并开展相关试验，对测试方法的规范性及实施细节予以验证；用规范和标准化语言完成标准的编写，注重标准的规范性和可执行性。