国家标准计划《地面用晶体硅光伏组件电势诱导衰减测试方法》由 TC90（全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 英利集团有限公司 、国家太阳能光伏产品质量监督检验中心 、中国电子科技集团公司第十八研究所 、中国电子技术标准化研究院 、常州天合光能有限公司 、上海晶澳太阳能科技有限公司 、常熟阿特斯阳光电力科技有限公司 、天津英利新能源有限公司 。

PID (Potential Induced Degradation)，即潜在电势诱导衰减，是指组件的输出功率在高强度负电压诱导下发生衰减的现象。

近年来，晶体硅光伏组件的PID效应在各大光伏研讨会上被频繁提及和密切关注。

研究表明，存在于晶体硅光伏组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压，会造成组件光伏性能的持续衰减。

一些电站的实际使用中也表明，光伏发电系统的系统电压对晶体硅电池组件似乎有持续的PID 效用，严重的时候可以引起组件功率衰减50% 以上，从而影响整个电站的功率输出。

本标准的目的是通过此种方法对光伏组件在户外通高电压，长期在高电压作用下造成组件的功率衰减情况的模拟；从而达到改善材料性能提高组件产品质量；防止组件在户外应用过程中PID现象的产生。

目前国内太阳能行业中，随着客户对PID测试要求的高度重视，相关的检测机构和生产企业分别进行PID测试，虽然试验持续进行约2年之久，但是由于国内还没有统一的标准，所以导致测试标准不一，测试要求五花八门。

我国是光伏产品制造大国，所以为了保证产品质量，统一测试方法，降低成本，急需制定此标准。

本标准主要适用于地面用晶体硅光伏组件，本标准主要包含：适用范围、测试原理、设备和仪器、样品、试验条件、试验步骤、结果表示、试验报告和流程图。