国家标准计划《微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定》由 TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 宝钢股份研究院特钢技术中心 、上海发电设备成套设计研究院 、中国科学院上海硅酸盐研究所 。
| 71 化工技术 |
| 71.040 分析化学 |
| 71.040.40 化学分析 |
本标准采用ISO国际标准:ISO 13067-2011。
采标中文名称:微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定。
工程材料的机械和电磁性能受其晶粒尺寸和分布的影响。
例如,材料强度、韧性和硬度这些重要的工程性能受晶粒尺寸和分布的显著影响。
对于块状材料和薄膜,即使是很小的二维结构材料,晶粒尺寸也影响其性能。
因此,对于材料的晶粒尺寸和分布测定需要有标准的方法和统一术语:尽管使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家共识,然而EBSD方法具有一些技术优势,包括高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述。
还有助于一些复杂材料(如多相合金)的晶粒尺寸测量。
范围:本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)、从一个二维抛光截面进行平均晶粒尺寸测量的指南。本标准确立了在晶体样品中作为位置函数的取向、取向差和花样质量参数的测量要求。