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国家标准计划《微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定》由 TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 宝钢股份研究院特钢技术中心上海发电设备成套设计研究院中国科学院上海硅酸盐研究所

目录

基础信息

计划号
20173837-T-469
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2018-01-09
公示开始日期
2017-10-19
公示截止日期
2017-11-02
标准类别
方法
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

采标情况

本标准采用ISO国际标准:ISO 13067-2011。

采标中文名称:微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定。

目的意义

工程材料的机械和电磁性能受其晶粒尺寸和分布的影响。

例如,材料强度、韧性和硬度这些重要的工程性能受晶粒尺寸和分布的显著影响。

对于块状材料和薄膜,即使是很小的二维结构材料,晶粒尺寸也影响其性能。

因此,对于材料的晶粒尺寸和分布测定需要有标准的方法和统一术语:尽管使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家共识,然而EBSD方法具有一些技术优势,包括高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述。

还有助于一些复杂材料(如多相合金)的晶粒尺寸测量。

范围和主要技术内容

范围:本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)、从一个二维抛光截面进行平均晶粒尺寸测量的指南。本标准确立了在晶体样品中作为位置函数的取向、取向差和花样质量参数的测量要求。