国家标准计划《发光二极管芯片点测方法》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 三安光电股份有限公司 。

规定了发光二极管芯片的点测条件和点测方法。适用于可见光发光二极管芯片光参数和直流电参数的点测。紫外光、红外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 主要 技术内容：对影响芯片点测数据结果的条件进行规范，主要有：大气条件、点测仪器、点测芯片状态、芯片点亮条件、驱动方式、芯片点测步骤、点测参数等内容。