国家标准项目《发光二极管模块热特性瞬态测试方法》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国科学院半导体研究所 。
规定了由单颗及多颗LED芯片组成的光源热特性瞬态测试方法。 本标准适用于单颗及多颗芯片封装的LED模组,LED芯片和其他集成电路器件构成的模组的热阻测量。其它多芯片封装形式的热阻测量也可参考。