国家标准计划《纳滤膜表面Zeta电位测试方法 流动电位法》由 TC382（全国分离膜标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 天津膜天膜工程技术有限公司 。

纳滤膜一般都具有荷电性能，对电解质溶液具有独特的分离特性。

电解质溶液通过纳滤膜的截留行为由静电作用和位阻效应共同决定。

因此近些年纳滤膜在饮用水处理、苦咸水处理和海水淡化等水处理领域和制药、食品等特殊分离领域发挥着越来越不可替代的作用。

纳滤膜的荷电性质和大小化显著地影响着纳滤膜的分离性能和耐污染能力。

纳滤膜表面荷电性一般用Zeta电位来表征。

对于宏观固体来说，Zeta 电位通过流动电位或流动电流来测定。

流动电位法适用范围很广,可用于不同材料(有机膜或无机膜),不同孔径(反渗透膜、纳滤膜、超滤膜、微滤膜等)以及不同形态(板式或管式)的膜样品。

另外,流动电位法不仅同时可以测定膜Zeta电位的正负和大小,而且操作相对简便,已经成为分离膜Zeta电位测试的最主要方法之一。

纳滤膜表面的Zeta电位的定量测定不仅是对纳滤膜性能的表征，而且对于指导纳滤膜生产、高性能膜材料合成、纳滤膜应用过程中膜的选型以及抗污染机制的建立都具有重要意义。

本标准规定了平板、中空纤维纳滤膜表面zeat电位值的测试方法。 本标准适用于平板、中空纤维内压、外压纳滤膜Zeta电位值的测试，也可用于反渗透、超滤和微滤膜表面Zeta电位的测定。