国家标准项目《无损检测 射线照相底片像质 第3部分：像质分类》由 TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 上海空间推进研究所 、上海航天动力科技工程有限公司 、上海材料研究所等 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 19232-3:2013。

采标中文名称:无损检测 射线照相底片像质 第3部分：像质分类。

范围：GB/T 23901的本部分规定了射线照相检测的最小像质指数，以确保相同的射线照相质量。本部分适用于两种像质计，即GB/T 23901.1所述线型像质计和GB/T 23901.2所述阶梯孔型像质计；两种射线照相方法，即GB/T 19943所述X射线照相检测方法和伽玛射线照相检测方法。 主要技术内容：1 范围，2 规范性引用文件，3 术语和定义，4　像质等级，5　像质计的放置，6　像质指数的确定，7　伽玛射线照相的像质指数，8　单壁透照技术：像质计位于源侧，9　双壁透照技术，双壁成像：像质计位于源侧，10　双壁透照技术，单壁或双壁成像：像质计位于探测器侧，11　双壁透照技术，单壁或双壁成像：像质计位于探测器侧。