国家标准计划《无损检测 射线照相底片像质 第3部分：像质分类》由 TC56（全国无损检测标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 上海空间推进研究所 、上海航天动力科技工程有限公司 、上海材料研究所等 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 19232-3:2013。

采标中文名称:无损检测 射线照相底片像质 第3部分：像质分类。

目的：现行国家标准GB/T 23901.3-2009等同采用ISO 19232-3:2004，ISO19232-3:2013的发布对原标准的适用性进行了完善，等同采用修订现行国家标准有助于射线检测中射线照相底片像质技术更为合理地应用。

意义：像质计是控制射线照相检测影像质量必不可少的元件，制定统一原则规定射线照相检测的最小像质指数，可以确保相同的射线照相质量，因此广泛应用于各行各业的射线照相检测应用中。

本标准为无损检测标准，属于关键共性技术标准。

本标准是基础通用标准，可通用于各行业各种工业产品的制造、销售和使用等各阶段。

本标准与线型像质计 像质指数的测定，阶梯孔型像质计 像质指数的测定，像质指数和像质表的实验评价，双线型像质计 图像不清晰度的测定组成系列标准。

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范围：GB/T 23901的本部分规定了射线照相检测的最小像质指数，以确保相同的射线照相质量。本部分适用于两种像质计，即GB/T 23901.1所述线型像质计和GB/T 23901.2所述阶梯孔型像质计；两种射线照相方法，即GB/T 19943所述X射线照相检测方法和伽玛射线照相检测方法。 主要技术内容：1 范围，2 规范性引用文件，3 术语和定义，4　像质等级，5　像质计的放置，6　像质指数的确定，7　伽玛射线照相的像质指数，8　单壁透照技术：像质计位于源侧，9　双壁透照技术，双壁成像：像质计位于源侧，10　双壁透照技术，单壁或双壁成像：像质计位于探测器侧，11　双壁透照技术，单壁或双壁成像：像质计位于探测器侧。