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国家标准《多探针测试台通用技术条件》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 三河建华高科有限责任公司 、中国电子科技集团公司第45研究所 、中国电子技术标准化研究院 、北京工业大学 、燕山大学 、昆山迈致治具科技有限公司 、雯澜新(上海)半导体科技有限公司 、矽电半导体设备(深圳)股份有限公司 、多场低温科技(北京)有限公司 。

主要起草人 段成龙 、杨晓静 、曹可慰 、刘海滨 、赵俊莎 、吕磊 、王伟 、吴怡然 、周豪 、宋伟峰 、华长春 、王超 、史泽远 、邢莹 、李扬 、吴浩 、张宝帅 、宋子凯 、王胜利 、雷迪 、吴贵阳 、申世鹏 。

目录

标准状态

即将替代以下标准

GB/T 15394-1994 (全部代替)

多探针测试台通用技术条件
当前标准

GB/T 15394-2026 即将实施

多探针测试台通用技术条件

基础信息

标准号
GB/T 15394-2026
发布日期
2026-08-28
实施日期
2027-03-01
全部代替标准
GB/T 15394-1994
标准计划
20240199-T-339
标准类别
产品
中国标准分类号
L90/94
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

段成龙
杨晓静
赵俊莎
吕磊
周豪
宋伟峰
史泽远
邢莹
张宝帅
宋子凯
吴贵阳
申世鹏
曹可慰
刘海滨
王伟
吴怡然
华长春
王超
李扬
吴浩
王胜利
雷迪

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