国家标准《航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分：半导体集成电路寿命》 由TC427（全国航空电子过程管理标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 、哈尔滨工程大学 、阿罗斯信息技术(苏州)有限公司 、哈尔滨工业大学 、中国航空综合技术研究所 、工业和信息化部电子第五研究所 、中航西安飞机工业集团股份有限公司 、太原航空仪表有限公司 、电子科技大学 。

主要起草人 刘站平 、刘平安 、陈启明 、任海涛 、何骁 、陈选龙 、喻玺文 、冯小玉 、朱荣刚 、王元元 、刘刚 、杜文杰 、王莉 、叶艳娟 、任烨 、刘芸 、孟恩丞 、王昊 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TR 62240-2:2018。

采标中文名称:航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分: 半导体集成电路寿命。