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国家标准《智能计算 忆阻器测试方法 第2部分:线性度》 由SWG32(全国智能计算标准化工作组)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院微电子研究所之江实验室浙江大学国防科技大学河北大学东北师范大学复旦大学中国电子科技集团公司第十三研究所杭州国磊半导体设备有限公司上海复旦微电子集团股份有限公司中国信息通信研究院中移(杭州)信息技术有限公司浪潮电子信息产业股份有限公司天翼云科技有限公司中移(苏州)软件技术有限公司中国计量大学深圳陆兮科技有限公司深圳市九天睿芯科技有限公司北京云之印科技有限公司

主要起草人 王忠新许晓欣孙文绚时拓马小雯陈鹏王中强王明闫小兵李清江钟鑫刘山佳顾海林董红梁黄唯静张九六周兰蒙贵云张丽静徐海阳李莹刘琦王义楠杨彪张乾王斌强张明明滕耘杨明冯杰刘海连周芃刘洪杰

目录

标准状态

当前标准

GB/T 46567.2-2026 即将实施

智能计算 忆阻器测试方法 第2部分:线性度

基础信息

标准号
GB/T 46567.2-2026
发布日期
2026-04-30
实施日期
2026-11-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国智能计算标准化工作组
执行单位
全国智能计算标准化工作组
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

王忠新
许晓欣
马小雯
陈鹏
闫小兵
李清江
顾海林
董红梁
周兰
蒙贵云
李莹
刘琦
张乾
王斌强
杨明
冯杰
刘洪杰
孙文绚
时拓
王中强
王明
钟鑫
刘山佳
黄唯静
张九六
张丽静
徐海阳
王义楠
杨彪
张明明
滕耘
刘海连
周芃

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