国家标准项目《边发射半导体激光器外延片增益谱测试方法》由 TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、苏州镓港半导体有限公司 、南开大学 、长春理工大学 、江苏华兴激光科技有限公司 、全磊光电股份有限公司 。

本标准规定了测量半导体边发射激光器和外延片增益谱的试验方法，适用于各类Ⅲ-Ⅴ族半导体边发射激光器和外延片。涵盖测试原理、仪器设备、样品制备、测试步骤和数据处理等内容，规范行业内半导体边发射激光器外延片质量评价。