国家标准计划《深紫外LED封装 寿命加速试验与评估方法》由 TC224(全国照明电器标准化技术委员会)归口,TC224SC1(全国照明电器标准化技术委员会电光源及其附件分会)执行 ,主管部门为中国轻工业联合会。
主要起草单位 山西中科潞安紫外光电科技有限公司 、中国科学院半导体研究所 、中北大学 、北京工业大学 、中关村半导体照明工程研发及产业联盟 、北京电光源检测认证有限公司 、厦门光莆电子股份有限公司 、中关村半导体照明联合创新重点实验室 、广东省东莞市质量监督检测中心 、鸿利智汇集团股份有限公司 、北京电光源研究所有限公司 。
主要起草人 孙雪娇 、刘乃鑫 、李晋闽 、梁庭 、郭伟玲 、宫明峰 、王军喜 、闫建昌 、阮军 、陈轩 、王清娜 、李本亮 、李丰超 、魏学成 、吕天刚 、邓锡康 、郭亚楠 、雷程 、徐圆圆 、郭凯 、刘梓元 、许世泽 、张童 、孙昕 、郝建群 、余楚成 。
20260713-T-607 正在征求意见
| 31 电子学 |
| 31.260 光电子学、激光设备 |
本标准等同采用其他国际标准:T/CSA 091—2025。
采标中文名称:深紫外LED加速试验的寿命评估方法。