国家标准计划《透明导电膜 透射衍射性能测试方法》由 TC431（全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国石油和化学工业联合会。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第三十三研究所 、太原理工大学 。

本标准所涉及的产品主要为采用非均质导电层的透明导电膜，产品可用于柔性电子、平板电脑、车载显示、智能家居、智能穿戴、医疗设施、建筑玻璃、轨道交通、光伏、照明等领域的透明电极、光学调控、电磁屏蔽等应用。

1、范围 本文件描述了波长范围400nm-1100nm的后焦面成像法和远场衍射空间分离法两种透射衍射性能测试方法。内容包括规范性引用文件、术语和定义、适用范围、测试环境、测试条件、试验方法步骤、试验结果计算和试验报告的详细要求。 本文件适用于非均质导电层透明导电膜的透射衍射性能测试。其它透明导电膜材料可参考使用。 2、主要技术内容 1）样品尺寸的规范，确保其表面质量和结构精度符合实验要求。 2）光源选择，选用稳定且具有单色性的激光光源，确保光源的波长与透明导电膜非均质导电层微观结构参数匹配，如氦氖激光器或半导体激光器。 3）光路设计，后焦面成像法光路设计包括激光光源、准直透镜、成像透镜和探测器，确保光束经过准直透镜后垂直入射到样品上，并通过成像透镜在后焦面上形成衍射图样。远场衍射空间分离法光路设计包括激光光源、准直透镜、远场探测器，确保光束经过准直透镜后垂直入射到样品上，并在远场区域形成衍射图样。 4）成像系统搭建，用于捕捉后焦面上的衍射图样，确保成像系统的分辨率和灵敏度满足实验要求，如CCD相机或CMOS相机。或用于捕捉远场衍射光斑。确保探测系统的分辨率和灵敏度满足实验要求，如光电探测器或高分辨率相机。 5）数据采集与分析，通过成像系统实时捕捉衍射图样或，通过探测系统实时捕捉远场衍射光斑，并利用图像处理软件对数据进行分析。计算衍射光斑的分布、强度和位置等参数，形成测试结果，精度在0.0001%。

面向下一代移动通信应用的高性能电磁屏蔽复合材料研究