国家标准《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命》 由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司 、中国计量大学 、国家纳米科学中心 、广纳珈源（广州）科技有限公司 、杭州美联医学股份有限公司 、复旦大学义乌研究院 、北京北达聚邦科技有限公司 、南开大学 、纳晶科技股份有限公司 、天美仪拓实验室设备（上海）有限公司 。

主要起草人 刘祖刚 、蔡培庆 、刘忍肖 、康永印 、赵飞 、葛广路 、庞代文 、朱小波 、郭海清 、吕碧琪 、张振星 。

本标准修改采用IEC国际标准：IEC TS 62607-3-3:2020。

采标中文名称:纳米制造 关键控制特性 第3-3部分: 发光纳米材料 使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命。