国家标准项目《智能计算 光电计算模块计算性能测试方法》由 SWG32(全国智能计算标准化工作组)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 北京航天计量测试技术研究所 、之江实验室 、上海曦智科技股份有限公司 、华中科技大学 、中国科学院上海光学精密机械研究所 、清华大学 、启元实验室 、上海交通大学 、南京航空航天大学 、北京理工大学 、上海新微技术研发中心有限公司 、天府逍遥(成都)科技有限公司 、中山大学 、南京南智先进光电集成技术研究院有限公司 、上海交大平湖智能光电研究院 、光子算数(南京)科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 。
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.99 其他半导体分立器件 |
MZI、MRR和衍射阵列型光电计算芯片
本标准适用于基于MZI、MRR以及衍射阵列架构的光电计算模块,规定了其计算性能的测试方法与评价指标。标准内容聚焦两类核心指标:一是算力,即单位时间内可完成的计算操作数;二是能效比,即每瓦功耗下单位时间内完成的操作数。相关条款涵盖测试原理、测试装置、实验步骤及数据处理方法,确保结果的科学性与可比性。 在算力测试部分,标准明确了三项关键参数的测量方法:并行度、单次运算规模与调制速率。并行度通过统计模块在单个计算周期内可并行执行的有效计算路径数进行评估;单次运算规模反映模块在一次计算周期内可完成的计算操作数量或矩阵维度大小;调制速率则衡量模块在单位时间内符号变化的次数。标准对实验配置、测试流程与有效性判据进行了统一规定,以保证数据具备可重复性和工程指导意义。 在能效比测试部分,标准界定了模块功耗的测量范围与方法,包括光源、驱动电路、调制器控制电路及探测器等环节的输入功耗。结合已测得的有效算力指标,可计算出模块整体的GOPS/W或TOPS/W性能,从而评价其能效水平。同时,标准对测试装置的组成、设备配置及参数设定提出了明确要求,涵盖激光器、任意波形发生器、偏振控制器、示波器等关键仪器的功能与性能指标。 作为我国首个面向光电计算模块的计算性能测试规范,本标准将为科研人员、设计者与集成厂商提供统一的性能评价依据,为推动光电计算技术标准化、体系化发展奠定基础。