国家标准计划《纳米技术 纳米颗粒球体度测量 偏振光散射法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，TC279SC2（全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会）执行 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 嘉兴美帕克仪器科技有限公司 、合肥鸿蒙标准技术研究院有限公司 、北京市计量检测科学研究院 、上海理工大学 、丹东百特仪器有限公司 、上海巨纳科技有限公司 、中国计量科学研究院 、中国计量大学 。

纳米颗粒的形貌在纳米颗粒的应用中十分重要，如药物颗粒的形貌直接影响药物颗粒的效果。

国内外对于纳米颗粒形貌的测量只有扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和原子力显微镜(AFM）可以直接观察到纳米颗粒的形貌特征，但难以定量表征非球形纳米颗粒的形貌，且制样复杂，耗时，仪器操作复杂昂贵。

到目前为止，尚缺少一种方法可以快速测量非球形纳米颗粒形貌，定量表征非球形纳米颗粒形貌及形貌分布参数的方法。

本标准的目的是建立和规范非球形纳米颗粒形貌的快速测量方法，提出一种表征非球形纳米颗粒形貌及形貌分布的参数，建立可溯源的非球形纳米标准颗粒体系，从而建立起非球形纳米颗粒形貌表征的整个标准体系。

并为进一步在ISO TC229上提出制定非球形纳米颗粒形貌测量的标准做准备。

标准范围： 提出10-200纳米范围非球形纳米颗粒的形貌参数及形貌分布和形貌分布均匀度的定义和范围、非球形纳米颗粒形貌测量方法、作为非球形纳米颗粒形貌参数测量方法和仪器标定用几种典型非球形纳米标准颗粒的建立。 主要技术如下内容： 1. 非球形纳米颗粒偏振散射理论介绍 2. 非球形纳米颗粒偏振散射线偏振度介绍 3. 非球形纳米颗粒形貌参数—光学球体度的定义和计算 4. 非球形纳米颗粒偏振散射测量方法 5. 非球形纳米颗粒形貌参数及分布，非球形纳米颗粒形貌分布及均匀度的定义和计算 6. 非球形纳米标准颗粒制备体系