国家标准计划《NAND 型闪存存储器寿命试验方法》由 TC28（全国信息技术标准化技术委员会）归口，TC28SC28（全国信息技术标准化技术委员会办公机器、外围设备和耗材分会）执行 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、华中科技大学 、置富科技(深圳)股份有限公司 、长江存储科技有限责任公司 、深圳大普微电子股份有限公司 、杭州海康存储科技有限公司 、华为技术有限公司 、合肥大唐存储科技有限公司 、浪潮电子信息产业股份有限公司 、湖北长江万润半导体技术有限公司 、新华三信息技术有限公司 、深圳市江波龙电子股份有限公司 、联想（北京）有限公司 、广东省通讯终端产品质量监督检验中心 、苏州欧康诺电子科技股份有限公司 、北京得瑞领新科技有限公司 、联想开天科技有限公司 、中电科尊冠（北京）检测认证有限公司 、爱国者安全科技（北京）有限公司 、深圳市忆捷创新科技有限公司 、深圳市领德创科技有限公司 。

主要起草人 陈海 、方芳 、吴非 、王龙 、霍宗亮 、刘晓蕾 、戴裕昇 、黄运新 、杨盛玮 、熊建林 、冯星 、刘怡 、顾申 、裴永航 、赵周星 、郁华真 、王颜尊 、刘如冰 、陈志扬 、崔晨 、李阳羿 、张清媛 、骆建 、白士玉 、赵铭 、秘慧洁 、贾秋伶 、邱全伟 、焦健 、白金锁 、黄胜 。