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国家标准计划《多探针测试台通用技术条件》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 三河建华高科有限责任公司中国电子科技集团公司第45研究所中国电子技术标准化研究院北京工业大学燕山大学昆山迈致治具科技有限公司雯澜新(上海)半导体科技有限公司矽电半导体设备(深圳)股份有限公司多场低温科技(北京)有限公司

主要起草人 段成龙杨晓静曹可慰刘海滨赵俊莎吕磊王伟吴怡然周豪宋伟峰华长春王超史泽远邢莹李扬吴浩张宝帅宋子凯王胜利雷迪吴贵阳申世鹏

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 15394-1994 (全部代替)

多探针测试台通用技术条件
当前标准计划

20240199-T-339 正在审查

多探针测试台通用技术条件

基础信息

计划号
20240199-T-339
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2024-03-25
标准类别
产品
中国标准分类号
L90/94
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

段成龙
杨晓静
赵俊莎
吕磊
周豪
宋伟峰
史泽远
邢莹
张宝帅
宋子凯
吴贵阳
申世鹏
曹可慰
刘海滨
王伟
吴怡然
华长春
王超
李扬
吴浩
王胜利
雷迪

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