国家标准计划《多探针测试台通用技术条件》由 339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。
主要起草单位 三河建华高科有限责任公司 、中国电子科技集团公司第45研究所 、中国电子技术标准化研究院 、北京工业大学 、燕山大学 、昆山迈致治具科技有限公司 、雯澜新(上海)半导体科技有限公司 、矽电半导体设备(深圳)股份有限公司 、多场低温科技(北京)有限公司 。
主要起草人 段成龙 、杨晓静 、曹可慰 、刘海滨 、赵俊莎 、吕磊 、王伟 、吴怡然 、周豪 、宋伟峰 、华长春 、王超 、史泽远 、邢莹 、李扬 、吴浩 、张宝帅 、宋子凯 、王胜利 、雷迪 、吴贵阳 、申世鹏 。
GB/T 15394-1994 (全部代替)
20240199-T-339 正在审查
31 电子学 |
31.260 光电子学、激光设备 |