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多探针测试台通用技术条件

General specification for probe tester
国家标准计划 修订 推荐性

国家标准计划《多探针测试台通用技术条件》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 三河建华高科有限责任公司 。

目录

项目进度

  1. 起草
  2. 征求意见
  3. 审查
  4. 批准
  5. 发布
修订了以下标准

GB/T 15394-1994 （全部代替）

多探针测试台通用技术条件
当前标准计划

20240199-T-339 正在征求意见

多探针测试台通用技术条件

征求意见稿

征求意见稿.pdf 编制说明.pdf

基础信息

计划号
20240199-T-339
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2024-03-25
标准类别
产品
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部（电子）
执行单位
工业和信息化部（电子）
主管部门
工业和信息化部（电子）

起草单位

三河建华高科有限责任公司

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