国家标准项目《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》由 TC265（全国超导标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 电子科技大学 、中国科学院物理研究所 、南京大学 、清华大学 。

本标准修改采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。

采标中文名称:超导电性 第7部分：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻。

1、主要技术内容： 采用与原国家标准相同的镜像介质谐振器法，测试高温超导薄膜表面电阻RS。 2、拟修订的内容，与原标准相比的主要变化： 拟参照国家标准GB/T 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》进行修订，测试技术原理和测试装置没有改变，只改变测试步骤，从而提高测试效率。 （1）附录B（规范性附录）中，应用镜像法测试超导样片微波表面电阻RS时，改变B.4测试步骤，增加校准探头作为测试RS的探头，将待测超导薄膜样品正面加载到测试探头，再将校准探头加载到待测超导薄膜样品反面，在一次温度循环中可同时测试双面高温超导薄膜正反两面的RS。 （2）附录C（资料性附录）中，C.3超导样品的测量过程发生改变，使用双测试探头结构，将测试探头和校准探头都加载到超导样品上，利用测试探头获取超导薄膜正面的微波表面电阻值，利用校准探头获取超导薄膜反面的微波表面电阻值。