国家标准计划《纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 国家纳米科学中心 、北京科技大学等 。

本标准是修订标准，规定了半导体纳米粉体材料的紫外-可见漫反射光谱测量的方法。本标准适用于半导体纳米粉体材料，尤其适用于不透光半导体纳米粉体材料漫反射的测定。 标准的技术内容主要包括对半导体纳米粉体材料进行紫外-可见漫反射测试，明确影响其漫反射光谱测定的影响因素，规范其测试方法。具体为样品制备、确定样品用量、扫描步长和狭缝宽度选择等，重复进行样品测试。与原标准相比，主要增加不同样品的制备方法，测量参数的提升，测试方法的完善等。