国家标准计划《纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 国家纳米科学中心 、北京科技大学等 。

半导体纳米粉体材料在新能源（各类电池材料、氢能等）、环境保护（空气、水体与土壤的污染控制）、化工、医药、航空和军事等领域得到广泛的应用，在国民经济发展过程中起到举足轻重的作用。

如纳米TiO2、ZnO、SnO2、CdS等，被广泛应用于太阳能电池的光电极。

目前，半导体纳米粉体材料在我国纳米材料市场中占绝对支配地位，市场规模大且发展迅速。

中商产业研究院发布的《2023-2028年中国半导体材料专题研究及发展前景预测评估报告》显示，2022年国内半导体材料市场规模约914.4亿元，较上年增长11.49%。

中商产业研究院分析师预测，2023年中国半导体材料市场规模将增至1024.34亿元，2024年规模将增至1144.99亿元。

产业化的迅速发展对半导体纳米粉体材料性质测量结果的有效性提出了迫切需求，半导体纳米粉体材料及产品市场急需技术标准、检测标准来进行规范。

紫外-可见漫反射光谱是研究半导体纳米粉体材料光学性质的重要表征方法。

通过该方法可获得材料的光吸收特性、带隙宽度、表面吸附情况、粉体之间的反应等。

2018年发布的GB/T 37131《纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法》规定了半导体纳米粉体材料的紫外-可见漫反射光谱测量的方法，对于推进并规范半导体纳米粉体材料科学研究及产业应用，具有一定意义。

随着技术的发展，需要对该标准进行修订，完善技术水平，满足多样化的产品需求，达到国际领先水平，保证我国半导体纳米粉体材料在各领域的可持续发展。

本标准是修订标准，规定了半导体纳米粉体材料的紫外-可见漫反射光谱测量的方法。本标准适用于半导体纳米粉体材料，尤其适用于不透光半导体纳米粉体材料漫反射的测定。 标准的技术内容主要包括对半导体纳米粉体材料进行紫外-可见漫反射测试，明确影响其漫反射光谱测定的影响因素，规范其测试方法。具体为样品制备、确定样品用量、扫描步长和狭缝宽度选择等，重复进行样品测试。与原标准相比，主要增加不同样品的制备方法，测量参数的提升，测试方法的完善等。