国家标准计划《NAND 型闪存存储器寿命试验方法》由 TC28（全国信息技术标准化技术委员会）归口，TC28SC28（全国信息技术标准化技术委员会办公机器、外围设备和耗材分会）执行 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、华中科技大学 、长江存储科技有限责任公司 、置富科技(深圳)股份有限公司 。

本标准给出了NAND型闪存存储器寿命的试验方法。适用于采用各种原理（浮栅或电阱）、结构（２Ｄ及３D）、制程工艺和位元级数（SLC、MLC、TLC、QLC）的NAND型闪存芯片颗粒。 主要内容包括： 1.术语、缩略语解释 提出NAND型闪存存储器寿命试验涉及的相关专业术语及缩略语。 2.样品要求 包括一般要求，功能要求（读、写、擦除）等。 3.试验要求 包括试验环境要求，测试要求、10余项寿命试验相关的参数和测试模式要求等； 4.寿命试验方法 包括耐久度应力试验、数据保持试验、读干扰实验、功能验证等； 5.寿命预估方法 包括直推法和外推法； ６.设备及安全措施 给出了试验设备的工作环境及安全措施。