国家标准计划《半导体器件 第16-7部分：微波集成电路 衰减器》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 河北新华北集成电路有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国电子标准化技术研究院 、南京国博电子股份有限公司 、国防科技大学 、西安电子科技大学等 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-16-7:2022。

采标中文名称:半导体器件 第 16-7部分：微波集成电路 衰减器。

全球范围微波元器件和组部件研制已经进入一个蓬勃发展的机遇期。

我国的微波技术已经从低成本制造向先进技术应用、产品创新和产业链高端发展，处于从技术引进到技术自立的转型期。

衰减器是一种常用的微波无源器件，主要用于降低电路中的射频信号和改善阻抗匹配，广泛应用于通信系统、仪器设备及各种测试系统中，涉及航空航天、电信、商业、工业以及消费电子等多个领域。

以各类无线通信技术带动的射频电路的高速发展，对衰减器的应用提出了定制化、集成化等新要求。

为了应对国内市场的急速扩张，供应商纷纷推出适用于多种应用环境的衰减器器件。

但是，国内尚无针对衰减器器件的测试、鉴定标准。

本标准的等同采用可填补国内微波集成电路衰减器标准的空白，统一微波集成电路衰减器的术语参数定义、测试方法等，对微波集成电路衰减器的相应企业标准和技术规范起到重要的指导作用。

IEC60747-16系列国际标准目前包括： 1. IEC 60747-16-1:2017 Semiconductor devices – Part 16-1: Microwave integrated circuit – Amplifiers; 2. IEC 60747-16-2:2008 Semiconductor devices – Part 16-2: Microwave integrated circuit – Frequency prescalers; 3. IEC 60747-16-3:2017 Semiconductor devices – Part 16-3: Microwave integrated circuit – Frequency converters; 4. IEC 60747-16-4:2017 Semiconductor devices – Part 16-4: Microwave integrated circuit – Switches; 5. IEC 60747-16-5:2013 Semiconductor devices – Part 16-5: Microwave integrated circuit – Oscillators; 6. IEC 60747-16-6:2019 Semiconductor devices – Part 16-6: Microwave integrated circuit – Frequency multipliers; 7. IEC 60747-16-7:2022 Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators 8. IEC 60747-16-8:2022 Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits – Limiters； 9. IEC 60747-16-10:2004 Semiconductor devices – Part 16-10: Microwave integrated circuit – Technology Approval Schedule(TAS) for monolithic microwave integrated circuits; 目前，ICE60747-16系列标准的国标转化工作正在进行，其中《第1部分 放大器》(GB/T 20870.1-2007)已经发布实施，《第2部分 预分频器》(20194110-T-399)、《第4部分 开关》(20201535-T-399)、《第5部分 振荡器》(20201538-T-399)、《第10部分单片微波集成电路技术可接收程序》(20193133-T-399)正在批准发布。

本标准是等同采用IEC 60747-16-7：2022，将与已经完成转化的IEC60747-16系列标准配套使用，可使我国相关检验方法与国际接轨，提高我国半导体器件的质量。

本标准的范围涉及半导体器件中微波集成电路衰减器，包括电调衰减器和数控衰减器等。 本标准主要技术内容包括范围、规范性引用文件、术语及定义、基本额定值和特性、测试方法等部分，规定了微波集成电路衰减器的插入损耗、衰减量、衰减范围、衰减精度、输入输出回波损耗、ndB压缩点、交调失真、附加相移、开关时间、相应时间和控制电压灵敏度等技术指标的定义及测试方法。