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地方标准《集成电路测试用微波探针应用规范》由四川省经济和信息化厅归口上报,主管部门为四川省市场监督管理局

主要起草单位 中国电子科技集团公司第九研究所

主要起草人 刘福涵冯楠轩王慧丽张芦高春燕丁敬垒李晓宇张志红高晓琴肖佳琪

目录

标准状态

基础信息

标准号
DB51/T 3207-2024
发布日期
2024-12-03
实施日期
2024-12-29
中国标准分类号
L 86
国际标准分类号
17.220
17 计量学和测量、物理现象
17.220 电学、磁学、电和磁的测量
归口单位
四川省经济和信息化厅
主管部门
四川省市场监督管理局
行业分类
制造业

备案信息

备案号:118742-2024。

适用范围

本文件规定了集成电路测试用微波探针(以下简称“探针”)的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。

起草单位

起草人

刘福涵
冯楠轩
高春燕
丁敬垒
高晓琴
肖佳琪
王慧丽
张芦
李晓宇
张志红

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