国家标准《纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》 由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 中国计量科学研究院 、测试狗（成都）实验检测有限公司 、河南科技大学 、中铝科学技术研究院有限公司 、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心） 、北京智芯微电子科技有限公司 、山东省计量科学研究院 、清华大学深圳国际研究生院 、上海交通大学 、中南大学 、西南科技大学 、南京市计量监督检测院 。

主要起草人 李旭 、任玲玲 、张毅 、王宇婷 、黄鹭 、娄花芬 、莫永达 、曹丛 、刘伟丽 、李适 、马拥军 、王俪颖 、郭新秋 、刘俊杰 、赵东艳 、梁霄鹏 、雷前 、高思田 、施玉书 、崔磊 、王亚磊 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 21363:2020。

采标中文名称:纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布。