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国家标准《硅中代位碳含量的红外吸收测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所青海芯测科技有限公司天津中环领先材料技术有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司山东有研半导体材料有限公司浙江海纳半导体股份有限公司布鲁克(北京)科技有限公司中国计量科学研究院有色金属技术经济研究院有限责任公司开化县检验检测研究院四川永祥新能源有限公司亚洲硅业(青海)股份有限公司新疆新特新能材料检测中心有限公司陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司中电晶华(天津)半导体材料有限公司浙江众晶电子有限公司义乌力迈新材料有限公司湖南三安半导体有限责任公司

主要起草人 李静何烜坤刘立娜李素青索开南马春喜薛心禄张雪囡张海英孙韫哲王彦君沈益军赵跃王军锋李兰兰邹剑秋徐顺波李寿琴张宝顺刘国霞徐岩李明达陆勇皮坤林杜伟华

目录

标准状态

即将替代以下标准

GB/T 1558-2009 (全部代替)

硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法
当前标准

GB/T 1558-2023 即将实施

硅中代位碳含量的红外吸收测试方法

基础信息

标准号
GB/T 1558-2023
发布日期
2023-12-28
实施日期
2024-07-01
全部代替标准
GB/T 1558-2009
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

李静
何烜坤
索开南
马春喜
张海英
孙韫哲
赵跃
王军锋
徐顺波
李寿琴
徐岩
李明达
杜伟华
刘立娜
李素青
薛心禄
张雪囡
王彦君
沈益军
李兰兰
邹剑秋
张宝顺
刘国霞
陆勇
皮坤林

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