国家标准计划《微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 北京科技大学 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 19214:2017。

采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法。

直径或厚度为纳米级尺寸的丝状晶体（包括针状、棒状等细长形晶体）在一些先进材料（特别是纳米材料）以及传统材料中都是常见的重要组成部分，其长轴的晶体学方向（或表观方向）不仅是材料研究中更是在新材料研发和生产工艺控制上十分重要的一个基本参数。

用透射电镜（TEM）技术测定其表观方向是目前广泛使用的一个基本方法。

至今在国际、国内都还没有建立标准，为了规范该项参数的测定方法，获得可靠的结果，迫切需要制定相关标准。

本标准可应用的领域包括先进材料中的丝状材料、纤维状材料（例如纳米电器、光电子器件、纳米线、太阳能电池、发光器件、场效应晶体管等）以及传统材料（例如钢铁和金属材料）中的针状析出相粒子等。 本草案主要是规范测定丝状晶体表观方向的分析方法。以实例结合理论阐述的方式，说明了获取丝状晶体表观方向的实验步骤及数据分析方法。主要内容包括：术语与定义；透射电镜的调整；样品制备及要求；丝状晶体的电子衍射谱及相应形貌照片的获取方法；应用晶体极射赤面投影法分析衍射谱的步骤以及晶体表观方向指数的确定。附录给出相关的晶体学公式。