国家标准计划《表面化学分析 辉光放电质谱 钼铌合金中痕量元素分析》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国科学院上海硅酸盐所 、西北有色金属研究院 。

钼铌合金具有熔点高、导电导热性好、热膨胀系数低、耐腐蚀性能好及环境友好等优点,特别是金属单晶具有特殊的力学和物理性能，是航天航空等领域应用广泛的关键材料之一。

材料的化学组成是影响材料性能的关键因素，特别是其中的痕量杂质元素种类及其含量对材料的性能、单晶化影响很大，因此材料的研发以及产品质量控制需要对材料中50种以上的杂质元素进行监控。

目前，对该类材料中需要监控的痕量杂质元素的检测，需要综合ICP-MS、ICP-OES、碳硫分析、氮氧分析等5~8种技术手段才能完成，各种方法的检出限差别很大，样品处理繁琐，且多数检测方法都没有形成标准，导致不同实验室间检测采用方法不一致，检测结果可比性较差，所以急需一种检出限低的全元素分析标准方法。

辉光放电质谱（GD-MS）具有制样简单、直接分析、同时检测除H以外所有元素、检出限低至μg/g~ng/g甚至pg/g数量级。

近年来， GD-MS方法随着仪器的普及和应用越来越广泛，已成为该类材料中痕量杂质元素检测的首选方法。

通过本标准的制定和实施，必将提高我国相关材料的研发能力，为保证相关产品质量提供技术保障。

本标准规定了采用辉光放电质谱法测量钼铌合金中痕量元素的测试方法。本标准适用于钼铌合金材料中除氢元素以外的其他杂质元素含量的测定，测量范围是本方法的检出限至0.1%（质量分数），检出限根据所用仪器及测量条件确定。通过合适的标准样品校正后，也可以测量质量分数大于0.1%的元素含量。 主要技术内容包括对仪器的要求、检测题条件的设定、样品的预处理、数据的采集和处理、对相对灵敏度因子的校正、方法的重复性限等。