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国家标准计划《锗酸铋(BGO)晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》由 TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 中国科学院上海硅酸盐研究所

目录

基础信息

计划号
20202774-T-469
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2020-08-07
公示开始日期
2020-01-07
公示截止日期
2020-01-21
标准类别
方法
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

范围和主要技术内容

标准规定了采用辉光放电质谱(GD-MS)法测量锗酸铋(BGO)晶体中杂质元素的测试方法,适用于BGO材料中除氢和惰性气体元素以外的其它杂质元素含量的测定,测量范围是本方法的检出限至0.1%(质量分数),检出限根据所用仪器及测量条件确定。 主要技术内容包括样品处理、仪器的准备与质量校正、测量条件的选择和优化、测量同位素的选择和干扰离子的处理、数据处理、检出限的确定、数据报告等。