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国家标准《元器件位移损伤试验方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国空间技术研究院 、中国工程物理研究院核物理与化学研究所 、西北核技术研究院 、中国电子科技集团公司第四十四研究所 、中国科学院新疆理化技术研究所 、扬州大学 。

主要起草人 罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42969-2023 现行

元器件位移损伤试验方法

基础信息

标准号
GB/T 42969-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
标准计划
20182263-T-339
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

罗磊
于庆奎
张洪伟
郑春
汪朝敏
李豫东
唐民
朱恒静
陈伟
丁李利
文林
薛玉雄

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