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GB/T 44937.8-2025  集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 61967-8:2023
 发布于  实施于
GB/T 44937.6-2025  集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6: Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 61967-6:2008
 发布于  实施于
GB/T 44937.5-2025  集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 5: Measurement of conducted emissions—Workbench Faraday Cage method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
 发布于  实施于
GB/T 44937.3-2025  集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3: Measurement of radiated emissions—Surface scan method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC TS 61967-3:2014
 发布于  实施于
GB/T 44937.2-2025  集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 2: Measurement of radiated emissions—TEM cell and wideband TEM cell method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 61967-2:2005
 发布于  实施于
GB/T 44937.1-2025  集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 1: General conditions and definitions
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 61967-1:2018
 发布于  实施于
GB/T 44937.4-2024  集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 现行
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 61967-4:2021
 发布于  实施于