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GB/T 43536.3-2026  三维集成电路 第3部分：硅通孔模型及测试方法 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Three dimensional integrated circuits—Part 3：Model and measurement methods of through-silicon via
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 63011-3:2018
 发布于  实施于
GB/T 20870.3-2026  半导体器件 第16-3部分：微波集成电路 变频器 即将实施
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L56 采
英文标题
Semiconductor devices—Part 16-3: Microwave integrated circuits—Frequency converters
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC 60747-16-3:2017
 发布于  实施于
GB/Z 34954.2-2026  航空电子过程管理 电子器件使用性能 第2部分：半导体集成电路寿命 现行
  国际标准分类号（ICS） 49.025   中国标准分类号（CCS） V25 采
英文标题
Process management for avionics—Electronic components capability in operation—Part 2：Semiconductor microcircuit lifetime
归口单位
全国航空电子过程管理标准化技术委员会
采标关系
等同  IEC TR 62240-2:2018
 发布于
20264140-T-339   集成电路电子设计自动化 数据全生命周期管理规范 正在征求意见
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Integrated circuit electronic design automation Data lifecycle management specification
制修订
制定
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
项目周期
12 个月
 下达于
20264176-T-339   厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 31.030   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
制修订
修订
归口单位
工业和信息化部（电子）
项目周期
12 个月
 下达于
20264177-T-339   薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 31.030   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
制修订
修订
归口单位
工业和信息化部（电子）
项目周期
12 个月
 下达于
20263926-T-469   识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 35.240.15   中国标准分类号（CCS） 采
英文标题
Identification cards — Test methods — Part 3:Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
制修订
修订
归口单位
全国信息技术标准化技术委员会
采标关系
修改  ISO/IEC 10373-3:2018
项目周期
10 个月
 下达于
20263937-T-469   集成电路用扫硅渣液 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 31.030   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Silicon residue cleaning solution for integrated circuits
制修订
制定
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
项目周期
12 个月
 下达于
20263940-T-469   集成电路用光掩模保护膜 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 31.030   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Photomask pellicle for Integrated circuits
制修订
制定
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
项目周期
15 个月
 下达于
20264197-Z-339   光通信用半导体集成电路仿真 第1部分：通用要求 正在起草
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS）
英文标题
Optical communication semiconductor integrated circuit simulation—Part 1: General requirements
制修订
制定
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
项目周期
10 个月
 下达于