注册

国家标准计划《半导体器件 集成电路 第20 部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所中国电子技术标准化研究院

主要起草人 王婷婷呂红杰冯玲玲王琪李林森雷剑张亚娟

目录

项目进度

基础信息

计划号
20193132-T-339
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2019-10-24
标准类别
方法
中国标准分类号
L57
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

王婷婷
呂红杰
李林森
雷剑
冯玲玲
王琪
张亚娟

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC60748-20-1:1994。

采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求。

投票情况

投票日期
2021-03-04~2021-03-14
通过率
80.00%
投票日期
2018-05-15~2018-05-28
通过率
82.76%

相近标准(计划)