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国家标准计划《半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所中国电子技术标准化研究院

主要起草人 冯玲玲陈裕焜雷剑王琪王婷婷管松林

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 13062-1991 (全部代替)

膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(可供认证用)
当前标准计划

20061679-T-339 已发布

半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

基础信息

计划号
20061679-T-339
制修订
修订
项目周期
36个月
下达日期
2005-12-30
标准类别
产品
中国标准分类号
L57
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

冯玲玲
陈裕焜
王婷婷
管松林
雷剑
王琪

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60748-21-1:1997。

采标中文名称:半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)。

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