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国家标准计划《无损检测 基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测 第1部分:系统分类》由 TC56(全国无损检测标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 上海材料研究所等

目录

基础信息

计划号
20200846-T-469
制修订
修订
项目周期
18个月
下达日期
2020-03-06
申报日期
2019-03-11
公示开始日期
2019-10-17
公示截止日期
2019-10-31
标准类别
基础
国际标准分类号
19.100
19 试验
19.100 无损检测
归口单位
全国无损检测标准化技术委员会
执行单位
全国无损检测标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 16371-1:2011。

采标中文名称:无损检测 基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测 第1部分:系统分类。

目的意义

计算机射线照相技术(Computed radiography,简称CR),它是指将射线透过工件后的信息记录在成像板(Image plate, IP)上,经扫描装置读取,再由计算机生成数字化图像的技术。

它是一种间接数字化射线检测技术。

整个系统由成像板、激光扫描读出器、数字图像处理和储存系统组成。

该技术使用成像板代替传统胶片作为射线接收媒介。

与传统胶片照相技术相比,计算机射线照相技术有以下优点:1)成像板可重复使用至少5000次,与购买胶片的成本相比有所降低;2)成像板上的潜影可经扫描装置读取,再由计算机生成数字化图像,无需传统胶片的暗室处理过程更为环保;3)成像板成像速度快,激光扫描装置读取时间远远小于胶片暗室处理时间;4)CR技术动态范围大,曝光条件易选择,检测的厚度差范围更大;5)CR技术产生的数字图像存储、传输、提取、观察方便,更容易实现网络交流。

计算机射线照相技术提高了射线检测效率同时降低了射线检测成本,且现场检测时无需寻找专门的暗室进行暗室处理。

范围和主要技术内容

本部分是计算机射线照相技术的第1部分,该部分规定了计算射线成像系统的基本参数,其目的在于获得满足经济性原则且可复验的结果。 不同等级的系统测试的定义可以被用来对不同供应商的系统进行分类,便于用户比对。 影响CR图像质量的因素包括几何不清晰度、信噪比、散射和对比度灵敏度。几个新增因素(例如扫描参数)影响使用光学扫描仪对曝光的IP上图像的精确读取。