国家标准计划《半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节：内部目检要求》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC60748-20-1:1994。

采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节：内部目检要求。

IEC系列标准代表了电气、电子、电信工程领域的高水平国际民用标准， IEC 60748《半导体器件 集成电路》的第1部分、第2部分、第3部分、第4部分、第5部分、第11部分、第21-1部分、第22部分、第22-1部分均已转换为国家标准，涵盖总则、数字集成电路、模拟集成电路、膜集成电路和混合膜集成电路总规范、膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）、膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）等，而IEC60748-20-1:1994目前尚未转化为国家标准，该标准为混合集成电路目检标准，系该行业的重要基础标准，因此为保证国家标准体系的完整性，转化该标准具有重要意义。

1、 目的和范围 2、 基板和检验程序 3、 组装-元件到基板的机械粘接和电连接 4、 组装-基板到外壳的机械粘接和电连接 5、 引线连接 6、 封装 7、 外来物