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国家标准计划《半导体集成电路 驱动器测试方法》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院

目录

基础信息

计划号
20192068-T-339
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2019-07-12
申报日期
2017-08-16
公示开始日期
2019-01-03
公示截止日期
2019-01-18
标准类别
方法
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

目的意义

驱动器通用性强,适用范围广,是装备现代化、信息化不可缺少的关键电子器件之一。

国内外的研制单位都比较多,用户也包括军民各应用领域,统一的驱动器测试方法有利于各相关单位研发、考评、应用。

驱动器的性能水平直接影响到相应产品的性能及可靠性,而产品的合格与否、与国外产品能否直接替代,重要的考核指标之一就是电参数,本标准的内容即是规定驱动器的电参数测试方法,从测试原理、环境到步骤都在本标准中进行规定。

通过该标准的制定,可以弥补我国在驱动器产品标准方面的空白,可为驱动器的设计、研制及试验提供依据,满足产品研制和使用需求。

范围和主要技术内容

本规范规定了半导体集成电路驱动器电参数的测试方法。 内容包括:参数指标体系、各参数测试目的、测试原理、测试条件、测试程序、通用要求和注意事项等。

国家级科研专项支撑

2017YFF0208200 国家质量基础的共性技术研究与应用