国家标准计划《半导体集成电路 模拟开关测试方法》由 TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 。

模拟开关是一种应用广泛的通用电路，可采用CMOS、BiCMOS、JFET等工艺实现单路、多路、双向及数据选择等功能，多应用在信号转换选择领域，如音视频监控、工业控制等。

随着前端环境感知、中端数据吞吐、后端信号处理能力的大幅提升，采用模拟开关进行系统设计时，设计者越来越关注模拟开关中涉及开关精度及速度的指标。

同时作为军品电路应用时，设计者更关注模拟开关及系统在环境适应性方面的能力，尤其是模拟开关核心指标导通电阻随温度变换的影响。

本次补充修订指标项将有助于提升模拟开关在军民品高速、高精度、高可靠相关技术领域的应用及发展，为该通用电路更好的服务于现代高新电子产业发展做好支撑。

以现行92版模拟开关测试方法为基础，国外Maxim、ADI、TI公司系列产品技术手册为参考，主要从测试项精度、多路复用及多路转换功能验证相关方面对模拟开关电路的通用测试方法进行修订。 保留现行国标全部测试项及测试内容，增加导通电阻路差率、温漂率、通道转换无效输出时间、电荷注入量四项指标测试方法，保证修订国标与主流军民应用领域相关技术接轨。