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国家标准计划《纳米技术—多壁碳纳米管的表征—介观形状因子》由 TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院

主要起草单位 国家纳米科学中心清华大学

目录

基础信息

计划号
20151367-T-491
制修订
制订
项目周期
36个月
下达日期
2015-08-18
申报日期
2015-03-09
公示开始日期
2015-06-05
公示截止日期
2015-06-20
标准类别
方法
国际标准分类号
71.040.50
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.50 物理化学分析方法
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO/TS 11888:2011。

采标中文名称:纳米技术—多壁碳纳米管的表征—介观形状因子。

目的意义

化学气相沉积(CVD)方法是合成多壁碳纳米管(MWCNTs)的通用方法,通过该方法合成的MWCNTs在高分子聚合物和导电薄膜方面具有重要的应用。

批量生产的MWCNTs的物理、化学特性强烈依赖于其介观形状和尺寸等特性,从而影响所生产的产品质量。

通过CVD方法能够批量生产MWCNTs,但是通常所得产品沿其轴向具有随机分布的静态(永久)弯曲点。

因此当MWCNTs在大规模应用于复合材料和其他分散体系时,为了保证MWCNTs最终性质的重现性和便于进行环境、健康和安全(EHS)的评价,表征MWCNTs的介观形状因子是关键。

本标准提供了包括样品制备和处理方法在内的MWCNTs的介观形状因子表征和统计方法,并重点关注了一个对MWCNTs及其复合体系的电渗流阈值、毒性、导热系数、流变学性质和场发射性能等多个重要参数有绝对重要影响统计量SBPL(散射弯曲持效长度)。

范围和主要技术内容

本标准规定了多壁碳纳米管(MWCNTs)介观形状因子的表征方法。详细介绍了包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、粘度测定法和光散射分析等技术应用于表征MWCNTs的介观形状因子时,样品的制备、处理和表征分析方法。并对影响MWCNTs的性质和应用的重要参数SBPL相关的术语进行了定义和解释,并给出了两个相近的方法用于评价SBPL这一具有重要统计意义的参数。