国家标准计划《纳米技术—多壁碳纳米管的表征—介观形状因子》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 国家纳米科学中心 、清华大学 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO/TS 11888:2011。

采标中文名称:纳米技术—多壁碳纳米管的表征—介观形状因子。

化学气相沉积（CVD）方法是合成多壁碳纳米管（MWCNTs）的通用方法，通过该方法合成的MWCNTs在高分子聚合物和导电薄膜方面具有重要的应用。

批量生产的MWCNTs的物理、化学特性强烈依赖于其介观形状和尺寸等特性，从而影响所生产的产品质量。

通过CVD方法能够批量生产MWCNTs，但是通常所得产品沿其轴向具有随机分布的静态（永久）弯曲点。

因此当MWCNTs在大规模应用于复合材料和其他分散体系时，为了保证MWCNTs最终性质的重现性和便于进行环境、健康和安全（EHS）的评价，表征MWCNTs的介观形状因子是关键。

本标准提供了包括样品制备和处理方法在内的MWCNTs的介观形状因子表征和统计方法，并重点关注了一个对MWCNTs及其复合体系的电渗流阈值、毒性、导热系数、流变学性质和场发射性能等多个重要参数有绝对重要影响统计量SBPL（散射弯曲持效长度）。

本标准规定了多壁碳纳米管（MWCNTs）介观形状因子的表征方法。详细介绍了包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、粘度测定法和光散射分析等技术应用于表征MWCNTs的介观形状因子时，样品的制备、处理和表征分析方法。并对影响MWCNTs的性质和应用的重要参数SBPL相关的术语进行了定义和解释，并给出了两个相近的方法用于评价SBPL这一具有重要统计意义的参数。