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《高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报,TC243SC5(全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会)执行,主管部门为中国有色金属工业协会

目录

基础信息

计划下达日期
2019-12-10
项目周期
一年
发布日期
2022-12-28
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会
主管部门
中国有色金属工业协会

翻译承担单位

翻译人

国内外简要情况说明

高纯银通常用于制造合金、焊料、银箔、银盐、化学仪器等,并用于制银币和底银等方面应用广泛。

由于银的纯度较高,因此银中杂质含量的准确测定有着非常重要的意义。

本标准采用高分辨的辉光放电质谱法对高纯银进行分析检测。

该方法具有一定技术先进性,能够达到国际先进水平。

辉光质谱的检测下限可达到ppb级,而等离子体发射质谱的检测下限只能达到ppm级。

通过查阅文献可知,目前国内外高纯银分析测试应用较多的是电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS),银化学分析方法 铜、铋、铁、铅、锑、钯、硒、碲、砷、钴、锰、镍、锡、锌、镉量的测定 电感耦合等离子体质谱法 YS/T1198-2017但该法受仪器及方法特性影响通常只能满足4N~5N高纯银中部分元素的检测,对于ng/g量级杂质元素的检测,对分析环境和试剂提出了较高的要求,分析流程相对较长,样品处理较复杂,且难以分析非金属杂质。

以上诸多缺点使其难以满足现代快速检测的需求。

目前银化学分析方法中杂质元素的分析主要采用火焰原子吸收法GB/T11067.2008;电感耦合等离子发射光谱法YS/T958-2014, 火花原子发射光谱法YS/T 959-2014(GB/T11067.2008),火焰原子吸收法一次只能测一个元素,效率较低;电感耦合等离子体发射光谱法YS/T958-2014, 只测铜、铋、铁、铅、锑、钯、硒和碲这8种元素,这种方法比较适合微量元素的分析,不适用于痕量元素的分析,对于痕量元素的分析,用这种方法分析需要多称样品,成本昂贵,且测试时还需要分离基体,操作过程繁琐。

火花原子发射光谱法只测铜、铋、铁、铅、锑、钯、硒和碲这8种元素,且需要固体标样,固体标样价格昂贵。