国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、合肥联诺科技股份有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 。
主要起草人 裴选 、张魁 、黄纪业 、席善斌 、彭浩 、魏兵 、林瑜攀 、颜天宝 。
GB/T 4937.32-2023 即将实施
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-32:2010。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)。