国家标准《纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法》 由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 中国科学院半导体研究所 、河北大学 、泰州巨纳新能源有限公司 、东南大学 、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司 、堀场（中国）贸易有限公司 、中国科学院物理研究所 、天津大学 、国家纳米科学中心 。

主要起草人 谭平恒 、刘雪璐 、林妙玲 、李晓莉 、丁荣 、章琦 、倪振华 、黄卫明 、沈婧 、杨洋 、何清 、高洁 、邵悦 。