国家标准计划《镁及镁合金化学分析方法 第24部分：痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》由 TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行 ，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位 国合通用测试评价认证股份公司 、国标（北京）检验认证有限公司 、甘肃精普检测科技有限公司 、昆明冶金研究院 、广东先导稀材股份有限公司 、峨嵋半导体材料研究所 。

高纯镁锭是一种应用比较广泛的化工产品，具有比重低、耐高温、耐磨等特点。

用于特种合金、军事、化工、航天、试验室等领域。

高纯的镁锭产品主要分为：特纯镁锭(99.99%)、高纯镁(99.98%)、特级镁锭(99.96%)及一级镁锭(99.95)以及特殊要求单项的镁锭。

其产品主要应用于核电所需的高纯材料的还原、航空航天用镁合金铸造、高性能高清洁度镁合金的配制等。

高纯度的镁合金是也是比较重要的一类。

主要具有质量小、硬度高等特点，广泛用于航空航天、导弹、汽车、建筑等行业。

目前不论高纯镁还是镁合金其痕量杂质都对产品的性能有很大影响，都需要可靠的检测手段作为产品评价的依据。

目前我国现行GB/T13748.X-20XX《镁及镁合金的化学成分分析方法》标准系列中共有23个部分，其中包括了铝、锡、锂、锰、钇、银、锆、稀土、硅、铍、铜、铅、镍、锌、钙、钾、氯、钛等元素的检测的单一方法，光电直读原子发射光谱和ICP-AES方法。

均不能满足高纯镁及其合金中痕量杂质的分析要求。

辉光放电质谱法(GDMS)是目前对固体材料直接进行痕量和超痕量分析最有效的手段之一，具有优越的检测限和宽动态线性范围的优点，而且样品制备简单、元素间灵敏度差异小、基体效应低，近20年来得到了快速的发展。

因此，制定镁及镁合金中痕量杂质的辉光放电质谱法可以满足高纯度镁及其高纯度镁合金中痕量杂质元素的分析要求。

因此，为了更好地配合高纯度镁产品的研究开发，提高我国高纯度镁及其高纯度合金的分析技术水平，有必要研究建立适用于高纯度镁或镁合金中痕量杂质元素的分析方法和标准。

从而进一步健全和完善我国现行的镁及镁合金系列方法，为镁产品的评价依据和产品提升做强有力支撑。

本研究工作拟采用GDMS方法对镁样品进行多元素分析研究，选定 Na、Al、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Mo、Nb、Zr、Cd、Sn、W、Pb、Na、Si、Ta等元素的测定。测定范围暂定为测定范围为0.001mg/kg~50mg/kg。GDMS虽然具备诸多优点，但在分析镁时存在诸多质谱干扰问题，如氧化物干扰等，因此，需要进行研究。其主要研究内容：1. 测定参数的选择、优化;2. 质谱干扰及测定同位素和分辨率选择；3.公共样品的测定数据，主要涉及起草单位及验证单位数据是否吻合，能否满足允许差的要求；4重复性限和允许差数据的情况。