国家标准计划《纳米技术 纳米银线透明导电薄膜氙灯加速老化试验方法》由 TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 苏州诺菲纳米科技有限公司 、苏州市计量测试院 。

与传统的透明导电材料ITO相比，纳米银线透明导电膜方阻更低、透过率更高、更耐弯折；相比于金属网格透明导电膜而言，纳米银线透明导电膜不仅弯折性更好，且具有无莫尔干涉条纹、适配对各种分辨率的显示屏、无需昂贵的黄光掩模板、打样灵活等优势；相比于新型碳基透明导电材料，纳米银线具有技术成熟度高、上下游产业链更完善的优势。

可以说，纳米银线透明导电膜是目前唯一一种适用于各种尺寸、柔性/刚性各种形态、各种显示分辨率的透明导电材料，已成为最具有潜力的下一代透明导电薄膜。

此前国外对于导电薄膜的核心材料和工艺、技术都进行了极严的保护，基本集中于美、日、韩。

为提升我国在新材料领域的国际话语权，目前国家对于新材料也相继推出一系列扶持政策。

目前导电薄膜行业对于导电薄膜的要求与出厂品质尚未有统一的标准，参差不齐的产品质量对于市场竞争力和国家科研能力的提升都将带来极大的阻碍。

该标准中的相关性能指标数据是在无数次的试验中得出，经过氙灯老化测试后，各项指标在规定的范围内，说明该导电膜产品具备出厂的资质。

通过本标准的建立，统一国内市场上各厂商产品检测标准，帮助国内同类企业提高产品质量，促进行业健康发展，对国产材料全球化的进程也将带来极大的推动作用。

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范围：本标准规定了纳米银线透明导电薄膜的氙灯加速老化试验方法与定义，包括应用术语、测试环境、产品标准等。本标准适用于纳米级别银线材料制成的触控产品的检测检验。 主要技术内容：对纳米银导电薄膜进行氙灯加速老化试验