国家标准计划《核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法》由 TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 核工业航测遥感中心 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61435:2013。

采标中文名称:核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法。

高纯锗谱仪是核技术应用领域广泛使用的能谱仪，高纯锗晶体是高纯锗谱仪的关键部件，其生产工艺极其复杂，长期依赖进口。

有关高纯锗晶体基本特征术语和测试方法的国家标准尚属空白。

鉴于国家重点研发计划重大科学仪器设备开发重点专项“全自动高纯锗能谱仪”已启动，该标准的制定对指导高纯锗晶体的制备技术具有重要意义。

本标准旨在规范高纯锗晶体基本特征的术语和测试方法。

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本标准适用于γ射线和x射线辐射探测器用高纯度锗晶体。 本标准规定了测量高纯锗晶体基本特征的术语和测试方法，方法有：采用电阻率或霍尔系数计算电活性杂质净浓度(NA-ND)，深能级瞬态谱技术测定杂质中心浓度和高纯锗晶体学描述及样品制备方法。