国家标准计划《微束分析 分析电子显微学 术语》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 北京科技大学 、南昌大学 、中科院金属所 。

本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15932-2013。

采标中文名称:微束分析 分析电子显微学 术语。

分析电子显微术（AEM）是应用透射电子显微术和扫描透射电子显微术（STEM）对固体材料小体积的组织、结构、元素组成和电子态进行定性、定量分析的技术，在国际、国内都已广泛应用于各行各业。

而一个技术领域的术语标准化是发展该领域其他方面标准的基本前提，本标准对于需要用 AEM词汇的科学技术活动如：科学研究、技术交流以及国际贸易等具有重要意义。

本标准定义了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念。 主要技术内容包含以下几方面常用术语的定义： AEM的物理基础；仪器及其基本特性；试样制备方法；AEM图像的形成和处理方法；图像的诠释和分析；AEM 像放大倍率和分辨率测量与校准以及电子衍射所用术语的定义。