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国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 南京中锗科技股份有限公司北京国晶辉红外光学科技有限公司云南临沧鑫圆锗业股份有限公司

主要起草人 张莉萍焦欣文王学武普世坤

目录

标准状态

基础信息

标准号
GB/T 26074-2010
发布日期
2011-01-10
实施日期
2011-10-01
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040.99
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.99 金属材料的其他试验方法
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

张莉萍
焦欣文
王学武
普世坤

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