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国家标准《Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国科学院半导体研究所

主要起草人 孙宝娟赵丽霞王军喜曾一平李晋闽

目录

标准状态

基础信息

标准号
GB/T 30654-2014
发布日期
2014-12-31
实施日期
2015-09-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040.20
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.20 金属材料无损检测
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

孙宝娟
赵丽霞
李晋闽
王军喜
曾一平

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