国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》 由339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心 、中国电子科技集团公司第四十六研究所 、中国电子技术标准化研究院 。

主要起草人 何秀坤 、董颜辉 、周智慧 、段曙光等 。