注册

国家标准《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 南京国盛电子有限公司宁波立立电子股份有限公司

主要起草人 马林宝骆红刘培东谭卫东吕立平

目录

标准状态

基础信息

标准号
GB/T 6617-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
全部代替标准
GB/T 6617-1995
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

代替以下标准

全部代替 GB/T 6617-1995

起草单位

起草人

马林宝
骆红
吕立平
刘培东
谭卫东

相近标准(计划)