国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 上海有色金属工业总公司 。

全部代替 GB 1551-1979

全部代替 GB 5253-1985

被 GB/T 1551-2009 GB/T 1551-2009 全部代替

本标准非等效采用ITU国际标准：ASTM F397:1988。

采标中文名称:。